Методы гониометрического контроля: На пути развития гониометрии как метода контроля параметров взаимного

Тригонометрическое нивелирование: методы, способы, схема

Методы гониометрического контроля: На пути развития гониометрии как метода контроля параметров взаимного

Является одним из способов определения превышения в вертикальной плоскости между разными точками местности или сооружений.

Для этого применяются геодезические приборы теодолиты и тахеометры, обладающие конструктивными способностями наклонного визирования.

В самом его названии заложена сущность метода, основанная в применении части математического аппарата вычислений с использования набора тригонометрических функций после выполнения полевых линейных и угловых измерений.

Технологическая схема

Суть технологии измерения одиночного превышения между двумя точками способом тригонометрического нивелирования заключается в следующем. На одном из геодезических пунктов на местности (Рис.1.Схема тригонометрического нивелирования) устанавливается современный теодолит (электронный тахеометр).

Конечно, имеется в виду точное выставление прибора над центром (центрирование) и приведение его в отвесное положение (горизонтирование). Сразу после этого производится замер рулеткой высоты инструмента (обычно обозначается символом «i»). Она обозначает кратчайшее расстояние между центрами точки стояния и теодолита (тахеометра).

Соответствующая запись фиксирует это в полевом журнале или вводится в экран измерений электронного тахеометра.

Рис.1.Схема тригонометрического нивелирования

Над второй точкой выставляется визир, например в виде рейки при измерениях теодолитом иди вехи с маркой и отражателем при наблюдениях тахеометром.

Высота визирования (обозначается символом «v») может измеряться по отсчету на рейке или рулеточным замером между центрами точки съемки и маркой с отражателем на вехе.

Как правило, на фирменных вешках нанесена сантиметровая шкала для удобства определения ее высоты. Высота визирования также заносится в журналы измерений, как электронный в тахеометре, так и бумажный.

В дальнейшем осуществляются ориентирование на съемочной станции и измерение горизонтального, затем вертикального улов на точку съемки и наклонного расстояния (S) с получением при необходимости горизонтального проложения (d).

Вычисление превышения (h) между точками можно вычислить из равенства:

Далее имеем:

Знаем, что

Тогда,

Или

где

  • S — наклонное расстояние;
  • d — горизонтальное проложение;
  • sinv — синус угла наклона между тахеометром и центром призмы;
  • tgv — тангенс угла наклона;
  • i — высота инструмента;
  • v — высота (цели) визирования.

Метод тригонометрического нивелирования можно считать неотъемлемой частью технологического процесса при производстве топографических тахеометрических съемок. Правда такой способ считается мало точным.

Методы тригонометрического нивелирования

Как правило, следует это обязательно отметить, применяются при перепадах высот местности, где геометрическое нивелирование не рекомендовано и экономически не целесообразно. В современных условиях можно выделить из них всего три вида:

  • одностороннее нивелирование «вперед»;
  • нивелирование «из середины»;
  • двухстороннее нивелирование.

Первый из перечисленных способов практически уже был рассмотрен выше.  Он является наименее точным и используется в топографии. Но с применением точных электронных тахеометров при выполнении крупномасштабных топосъемок одновременно прокладывают и геодезическое обоснование, с пунктов которого ведут съемочные работы.

С их использованием происходит значительное снижение временных затрат и точность работ имеет существенный запас надежности.

Так в соответствии с техническими и фактическими характеристиками электронные приборы (тахеометры) имеют среднеквадратические погрешности однократного измерения горизонтального угла и отдельно вертикального не более пяти-шести секунд.

Среднеквадратическая погрешность однократного измерения длины сторон имеют значения от двух до шести миллиметров в зависимости от расстояний и цели визирования (на отражательную пленку или призменный отражатель). При тригонометрическом нивелировании, как правило, все измерения, а именно:

  • высоты инструмента;
  • высоты визирования (цели);
  • вертикальные углы;
  • длины сторон

измеряются дважды (в прямом и обратном направлении) и при положении трубы при двух положениях круга (круге право и круге лево).

Фактические невязки должны быть естественно в пределах допустимых (fдоп), которые вычисляются по формуле:

где

S — длина сторон, измеряющаяся в метрах;

n — количество сторон.

Метод из середины

Является очень похожим по технологии исполнения на такой же способ геометрического нивелирования. Сам геодезический прибор (тахеометр) устанавливается ориентировочно посередине между точками наблюдения в зависимости от расстояния между ними в пределах 5 — 15метров.

В качестве визирных целей могут использоваться различные принадлежности:

  • рейки, при не больших расстояниях между прибором и пунктами съемки (до 70 метров);
  • вешки с марками и призменными отражателями на них, при расстояниях от 70 и до 350 метров в ясную погоду;
  • штативы с установкой на них трегеров с оптическими центрирами и маркой с призмой.

При использовании реек визирование прибора может осуществляться на ее шкалу. Оно возможно также и на самоклеющуюся отражательную пленку (ОП-50), с постоянной высотой визирования, определенной заранее. При наклеивании нескольких пленок на разной высоте рейки высота цели при съемке будет переменной в зависимости от рельефа местности и видимости.

Рис.2. Тригонометрическое нивелирование из середины с рейками.

Применяя вешки с размещением на них визирных марок с отражательными призмами рекомендуется удерживать их в специально для этого предусмотренных биподах, триподах, так называемых штативах для вешек с двумя и соответственно тремя ножками.

Рис.3. Тригонометрическое нивелирование из середины с вешками.

Еще одним вариантом прокладывания тригонометрических ходов методом «из середины» является способ трех штативов. Суть этой системы заключается в следующем.

По направлению движения нивелировки устанавливаются сначала задний штатив, на который устанавливается трегер с оптическим отвесом.

В него с помощью адаптера могут вставляться марки с призмами или марки с приклеенными на них отражательными пленками ОП-50.

Рис.4. Тригонометрическое нивелирование из середины по штативной системе.

На второй штатив устанавливается электронный тахеометр. И на передний (третий) штатив крепится вторая сигнальная марка с отражателем в трегер. Выполняются все требующиеся линейные и угловые измерения.

Далее осуществляется переход на последующий за передним штативом пункт. Снимается с места только задний штатив, средний с тахеометром и передний остаются. Меняются местами только тахеометр и алаптеры с оптическими отвесами.

На каждом штативе должны быть установлены именно в такой последовательности:

  • на заднем штативе призма с маркой;
  • на среднем электронный тахеометр;
  • на переднем также марка с отражательной призмой.

Технологическая цепочка повторяется.

Двухсторонний способ

Можно разделить на одновременное и неодновременное его исполнение. Одновременное нивелирование подразумевает под собой проведение измерений двумя приборами синхронно с привлечением соответственно и двух исполнителей работ.

Неодновременный, двухсторонний метод заключается в геодезических измерениях с перестановкой тахеометра на пунктах наблюдения в такой же последовательности, как и при трех штативном способе. При этом он состоит как бы из двух односторонних ходов с измерениями «вперед» и « назад».

Наиболее оптимальными расстояниями в них считаются длины линий величинами от 200 до 350 метров.

Применение различных методов нивелирования в геодезии и в основном высшей геодезии обусловлено поиском устранения влияния рефракции воздуха при измерениях в основном вертикальных углов и повышением точности работ. Проблемными моментами при выполнении измерений, помимо влияния воздушной рефракции, является отсутствие сведений по уклонению отвесной линии на пунктах опорных сетей, где измеряются зенитные расстояния.

Высокоточное тригонометрическое нивелирование, или как иногда его называют геодезическое, применяется при определении высотных координат государственных пунктов опорной сети. Одними из его элементов считаются горизонтальные проложения, которые могут быть получены при производстве триангуляции. Поэтому в тригонометрических ходах и определяют только высотные координаты.

При этом по трудоемкости тригонометрические способы самые производительные и экономичные. Но по качеству работ, то есть точности измерений, он все-таки уступает тому же геометрическому нивелированию. При этом использованию тригонометрического нивелирования в горных районах местности нет альтернативы.

А с использованием современных инструментов и методик работ значительно повышает точность конечных результатов.

Источник: https://geostart.ru/post/310

Гониометрические методы

Методы гониометрического контроля: На пути развития гониометрии как метода контроля параметров взаимного

Пузырность.

Однородность оптическая.

ХАРАКТЕРИСТИКИ ОПТИЧЕСКОГО СТЕКЛА

Увеличение микроскопа

Гм= Гокbоб=250D/¦¢ок¦¢об; 1000A³Гм³250А

Визирные микроскопы делятся на 1-координатные, 2-координатные,3-координатные (две линейных и угловая координаты).Микроскоп состоит из 2-х основных узлов: окуляра и объектива, помещенных в едином корпусе и имеющих подвижки по оптической оси между собой и относительно предметного столика.

1.Коэффициент преломления — ne(l=0,546 мкм — зеленый, линия ртути).

2.Средняя дисперсия- (nF — nc) , nF (l=0,48мкм — голубой, линия кадмия),nc(l=0,638мкм — красный, линия кадмия).

3.Коэффициент дисперсии n =( ne — 1 ) / (nF — nc ).

4. Показатель ослабления -Е (см).

6. Бессвильность(количество свилей).

В УФобласти neопределяется для l=0,365мкм.

Для ИКобласти ne определяется для l=0,8 мкм; 0,863; 0,9; 0,95; [1,0 -1,2 шаг 0,05 ] ; [ 1,3 — 2,6 шаг 0,1 ] ; [4 -12 шаг 1].

Для измерения коэффициента преломления и дисперсии применяются следующие методы с погрешностями- Dn:

гониометрическиеDn=0,000015,

— рефрактометрическиеDn=0,0001,

— интерференционныеDn=0,00001

Наибольшее применение в высокоточных измерениях получили метод наименьшего отклонения и метод автоколлимации.

3.1.1. Метод наименьшего отклонения основан на определении min отклонения лучапризмой (Рис. 3.1).

а) Если луч, проходящий в призме,

q a1-a‘1 ортогонален биссектрисе угла q, то

б)из Рис 3.1 имеем:q=180-(90-a‘1+

a‘2-a2 +90-a2)=a‘1+a2;

a1 a‘1 a2 a’2 d в) d=a1-a‘1 + a‘2-a2= a1+a‘2-q ;

Рис 3.1 a1 При min d® a1=a‘2; a‘1=a2,

a1=a‘2

; (3.1)

Для входящего луча запишем

(3.2)

Стандартом предусмотрено применять при измерении nпризмы со строго установленными углами.

n 1,75
q 60o 50o 40o

Определим точность отсчета. Для этого прологарифмируем и продифференцируем (3.2) и заменим dx на Dх

lnn =ln Sin (d/2+q/2) — ln Sin (q/2)

dn/n =(Sin-1(d/2+q/2) Cos(d/2+q/2))(dd+dq)/2 — Sin-1(q/2) Cos(q/2) dq/2

(3.3)

Способы измерения угла наименьшего отклонения:

1. Первый способ. Измерение угла d.

1)Устанавливают призму на столике так, чтобы ось гониометра через биссектрису угла q, а луч через середину стороны.

2) Методом автоколлимации или коллимации находят угол q .

3) Находят положение угла наименьшего отклонения луча ,которое отыскивается по неподвижному положению изображения щели коллиматора следующим образом:

— при вращении столика с призмой, например по часовой стрелке, изображение луча щели движется в ту же сторону до тех пор, пока не дойдет до положения, соответствующего углу наименьшего отклонения — при этом изображение луча щели останавливается и меняет свое направление (см.Рис4.1.б) на противоположное. Разница углов по лимбу между направлением Вх. и Вых. лучей —угол d.

2. Второй способ. Измерение двойного угла 2dпроводится аналогично предыдущему способу (вращением призмы и установлением момента перемены вращения изображения щели) в 2-х положениях — 1 и 2 , соответствующих прохождению луча через обе грани призмы (Рис.4.2).

2dДля измерения nc точностью 1,5 10-5 необходимо

1измерять углы с точностью- 2” (ГС-2) и иметь

2 призму с параметрами: h=10 мм, l=25мм (сторона).

Рис.3.2.

Источник: https://studopedia.su/10_75067_goniometricheskie-metodi.html

ПОИСК

Методы гониометрического контроля: На пути развития гониометрии как метода контроля параметров взаимного
[c.115]
    Для непрерывной регистрации показателей преломления чаще всего используются те же методы измерения, что и в визуальной рефрактометрии, а именно дифференциальный гониометрический метод, метод полного внутреннего отражения и реже — интерференционный и фотометрический методы. а [c.

247]

    Одной из важнейших частей современного дифрактометра является рентгеновское гониометрическое устройство (гониометр), представляюш ее собой сложный оптико-механический прибор, предназначенный для измерения углов дифракции ионизационным методом.

От того, насколько точно гониометр позволяет измерять углы дифракции, зависит точность всех дифрактометрических из- [c.131]

    Для непрерывной автоматической регистрации показателей преломления чаще всего используются дифференциальный гониометрический метод, методы полного внутреннего отражения и фотометрический и реже — интерференционный метод. [c.242]

    В камере РКВ-86А имеется оптическая система 4, превращающая прибор в однокружный оптический отражательный гониометр. С помощью этой оптической системы можно проводить гониометрические измерения и установку хорошо ограненного и хорошо отражающего кристалла оптическими методами непосредственно в рентгеновской камере. [c.129]

    Во всех случаях применение метода прямого изображения решетки кристаллов требует очень тщательной юстировки и чистки микроскопа практически перед каждым экспериментом.

Сложность в подготовке объекта связана не только с необходимостью получения достаточно тонкого образца, но и с необходимостью получения заданной ориентировки, поскольку применение гониометрического столика не может обеспечить сохранения высокого разрешения. [c.543]

    О схеме гониометрического устройства см, на стр. 211, 225 и 378—388 о схеме устройства для измерения интенсивности лучей ионизационным методом — на стр, 165—174, [c.134]

    Для проверки гониометрических данных о симметрии кристалла часто применяется также полихроматический метод. Он используется одновременно и для решения ряда вспомогательных задач (выявление сростков и двойников и др.). Съемка по полихроматическому методу не является абсолютно необходимой. [c.232]

    Изменение модификаций можно установить различными методами. Они основаны на различии физических, химических или других свойств обеих фаз. Метод, который используется наиболее часто, состоит в рентгенографическом определении структуры, которое дает точные параметры обеих структур.

Однако часто достаточно определить ориентировки методами Дебая — Шеррера, Лауэ или с помощью ионизационных гониометрических снимков, чтобы установить точку превращения. Другой метод основан на изменении цвета, которое особенно проявляется у соединений ртути. Поэтому некоторые соеди- [c.

185]

    Этот метод используется для точной юстировки кристаллов. Дуги гониометрической головки устанавливают таким образом, чтобы одна из них была параллельна рентгеновскому пучку, а другая перпендикулярна. Затем при этом положении снимают рентгенограмму качания в интервале 15 .

После этого головку поворачивают на 180 и повторяют съемку с большим периодом времени. Таким способом получают две дифракционные картины на одной и той же фотопленке.

Опорную линию, от которой можно проводить измерения поправок, проводят в виде горизонтали между двумя получившимися на снимке нулевыми слоевыми линиями. [c.60]

    Угловые размеры изделий в машиностроении измеряются в основном двумя методами тригонометрическим и гониометрическим. [c.204]

    Далеко не всегда исследователь р асполагает достаточно большим образцом изучаемого твердого материала и достаточным объемом жидкости, необходимыми для измерения краевого угла по методу наклоняющейся пластинки.

В таких случаях для определения краевых углов, как правило, используют каплю жидкости или газовый пузырек (рис. УИ-4). Зисман и др.

[31] рассматривают каплю, сидящую на поверхности образца, под горизонтальным микроскопом с гониометрической шкалой, позволяющей непосредственно измерять краевой угол. Лежа и Полинг [32] сажают каплю или пузырек на отражающую (зеркальную) поверхность и фотографируют их под небольшим углом.

При этом угол встречи прямого и отраженного изображения равен удвоенному краевому углу. Оттевил [33] разработал метод прижатого пузырька , в котором пузырек, контактирующий с твердой иоверхностью, формиру- [c.275]

    Рентгеновская камера состоит из трех основных частей коллиматора — по-лого металлического цилиндра, вырезающего узкий пучок из выходящих конусом из рентгеновской трубки лучей устройства для крепления образца столика или гониометрической головки и кассеты. Столик для крепления образца применяется только а камерах, используемых по методу порошка. Гониометрическая головка используется во всех методах исследования монокристаллов. Головка позволяет поворачивать кристалл вокруг [c.86]

    В съемках по асимметричному методу применяют специальное юстировочное устройство для центрировки образца типа гониометрической головки. Камера помещается в ультратермостат.

Измерение расстояний 2/q облегчается применением тонких образцов при съемке п компараторов или микрофотометров. Определение периодов производят по последним линиям, т. е. по расщепленным дублетам fij и а. .

[c.150]

    ИЗ НИХ при добавлении центра симметрии.

Однако 70 пространственных групп (включая 10 энантиоморфных пар) могут быть определены однозначно к счастью, сюда относится и Р2 /а-груп-па, наиболее распространенная среди нескольких тысяч исследованных до сих пор кристаллов (к ней принадлежит почти 26% всех органических кристаллов). Даже если погасания допускают неоднозначность (что обычно случается), можно осуществить разумный выбор с помощью исследования таких физических свойств, как наличие пиро- или пьезо-электричества, а также с помощью морфологического исследования кристаллов классическим гониометрическим методом или исследования статистики распределения интенсивностей отражений [метод первостепенной важности, разработанный Вильсоном (Wilson, 1949) и Роджерсом (Rogers, 1950)]. [c.56]

    Спайность веществ (разделение кристаллов параллельно определенному кристаллографическому направлению) исследована для большей части интересующих нас соединений Кроме стандартных гониометрических методов в последнее время для полупроводниковых веществ группы алмаза применяется бритвенная методика исследования микроспайности [50]. [c.81]

    Основным методом является гониометрическое определение междугран-ных углов. Впрочем гониометрический метод даёт однозначные результаты но всегда. Иногда представляет трудности да /ке определение сингонии. См. [15]. [c.88]

    Теоретические и практические аспекты рассеяния света клетками и субклеточными частицами довольно полно рассмотрены в [66], а в работах [62, 63] дан обширный обзор рассеяния света бактериями и подобными им частицами.

Принципы светорассеяния широко используют, например, при изучении морфологии ядер и клеток методом проточной цитометрии (измеряют рассеяние света вдоль и перпендикулярно потоку [91]), для обследования эпидермальных клеток гониометрическими методами [16],. лазерного контроля деформации эритроцитов [78].

Лазеры широко используют также для быстрого скрининга мочи на наличие в ней бактерий (бактериурия) нефелометрическим методом [6]. [c.542]

    Рентгенооптическая схема фокусировки рентгеновских лучей по Бреггу — Брентано реализована в конструкциях отечественных дифрактометров типа ДРОН при работе с поликристаллами и срезами монокристаллических образцов.

Основной частью рентгеновского дифрактометра является гониометрическое устройство, позволяющее измерять углы дифракции с точностью до нескольких десятых угловой минуты.

Дифракционная картина, регистрируемая дифрактометрическим методом, представляет собой зависимость интенсивности рассеянного образцом излучения от угла дифракции, У ( ). Она может быть представлена либо в виде таблиц, либо в графической форме (рис. VI.7). [c.121]

    При измерении углов отражения дифрактометрическим методом необходимо знать положение нуля счетчика, так как, в отличие от метода поликристалла с фотографической регистрацией, в дифрактометре регистрируется только одна половина дифракционного спектра.

В хорошо отъюстированном дифрактометре плоскость образца совпадает с осью гониометрического устройства и с прямой линией, проходящей через центры коллимирующих щелей, формирующих первичный пучок, фокус трубки и центр приемной щели счетчика.

Существует несколько методов калибровки дифрактометра по эталонам, по максимуму пучка, проходящего через узкую щель, установленную на оси гониометра, и т. д. [10]. Применение для калибровки эталонных веществ не обеспечивает наилучшей точности.

В настоящее время широкое распространение получил метод калибровки, предложенный Турна-рп. Использование метода Турнари дает возмонгность определить положение нуля счетчика с точностью не хуже, чем 0,01°. [c.121]

    Интересная конструкция высокотемпературной приставки к рентгеногониометру типа КФОР предложена в работе [19]. Авторы применили в качестве юстировочного устройства гониометрическую головку оригинальной конструкции, что позволило вынести механизм поворотов образца из области повышенных температур.

С помощью этой высокотемпературной приставки можно исследовать монокристаллы при температурах до 500 °С рентгено-Еониометрическими методами, что особенно важно для определения. пространственных групп высокотемпературных фаз сегнето-электриков и других кристаллов, претерпевающих фазовые переходы в той температурной области.

[c.140]

    Третий метод, постоянно используемый в Орлеане начиная с 1970 г., основан на измерении всех структурных параметров по микрофотографиям. Полученные значения затем вводятся в формулы табл. 3, дающие коэффициенты фа и фв.

Для ламеллярной структуры [47] с ошибкой до 5% получены значения й, и с в путем измерения с помощью высококачественной оптической системы (М1коп) по микрофотографиям на ультратонких срезах.

Срезы проверяются на электронном микроскопе с гониометрической головкой для подтверждения того, что они действительно перпендикулярны плоскости ламеллы. [c.221]

    Кроме случаев точных абсолютных измерений, метод призмы нередко применяется для гораздо более грубых определений показателей сильнопреломляющих иммерсионных сред (см. гл. XII), когда не могут быть использованы распространенные типы ре-фракто.метров.

Для таких не очень точных работ применяются небольшие ( минутные ) гониометры и упрощенные конструкции полых призм без термостатирования (см., например, [14]). Расчеты при гониометрических измерениях невысокой точности могут быть значительно облегчены применением номограмм [15, 16].

[c.121]

    В последующих главах при изложении всех вопросов, связанных с решением этих задач, будет предполагаться, что исследуемый кристалл хорошо огранен и уже изучен гониометрически. В главе XI будут рассмотрены задачи, решение которых не требует индицирования пятен рентгенограмм. Сюда относятся три первые задачи.

Для определения размеров ячейки и определения типа решетки достаточно произвести некоторые общие измерения расстояний на соответствующих рентгенограммах ДЛЯ решения третьей задачи привлекается лишь симметрия в расположении пятен. Главы XII и XIII посвящены определению пространственной группы.

Основой для ее определения является систематика индексов присутствующих отражений. Требуется, следовательно, определить предварительно индексы всех присутствующих на рентгенограммах пятен. В главе XII излагаются общие идеи, лежащие в основе метода определения пространственной группы.

Глава XIII рассматривает вопросы, связанные с индицированием рентгенограмм, т. е. практическим нахождением пространственной группы. [c.232]

    Как видно из приведенного только что описания операций, для получения рюнтрольных снимков выбранные кристаллографические направления ориентируются либо параллельно первичному пучку, либо перпендикулярно ему — вдоль оси гониометрической головки. Последнее необходимо и для дальнейшего исследования кристалла, которое обычно производится методом вращения (или одной из его разновидностей).  [c.412]

    Во многих камерах, предназначенных для работы по методу вращения, предусмотрены кроме цилиндрических кассет также и плоские кассеты для съемки лауэграмм (например, РКОП, РКВ и КРОН). Способ переюстировки кристалла после съемки лауэграмм в некоторой степени зависит от конструкции камеры и гониометрической головки.

В камере РКОП юстировку кристалла можно осуществить за счет вращения барабана с головкой и движения его по дуге в камере КРОН — комбинацией перемещения кристаллоносца в дополнительной насадке с движениями по дугам головки.

В других камерах, в частности в камере РКВ, юстировка осуществляется только за счет движения кристалла по дугам гониометрической головки. В этом случае желательно иметь головку с дугами, охватывающими большой интервал углов.

Однако если в дальнейшем предполагается перенести кристалл в рентгенгониометр или дифрактометр, то при съемке лауэграмм приходится пользоваться лишь такими головками, которые подходят для этих приборов, а юстировку осуществлять только движениями по дугам головки. [c.412]

    При регистрации рентгеновских лучей с помощью ионизационного прибора имеется возможность проследить за изменением интенсивности дифракционного луча при отклонении кристалла от положения, отвечающего условию Брегга — Вульфа.

Эта особенность и используется при уточнении юстировки кристалла в дифрактометрах. Монокристальная приставка к дифрактометру УРС-50И позволяет проводить исследование порядным методом по экваториальной схеме. Как было выяснено в гл.

ХП1, этот метод требует, чтобы с осью гониометрической головки был совмещен некоторый заданный узловой ряд обратной рещетки. Иначе говоря, кристалл должен быть ориентирован на головке так, чтобы заданная серия узловых сеток его решетки располагалась строго перпендикулярно оси головки.

Уточнение юстировки удобнее всего проводить по отражениям от этой серии сеток. [c.428]

    Гониометрические развертки подтвердили гексагональную симметрию кристаллов (класс Лауэ 6//н). Систематические погасания рефлексов приводят к двум возможным пространственным группам Р63 и Р6з/т. Параметры элементарной ячейки, а = 17.375 + +0.005, с=15.185+0.005 А плотность измеренная 1.4 г/см вычисленная на 6 формульных единиц [Ni(en)з]-81305-8.7Н2О 1.

3 г/см . Измерения интенсивностей выполнены на монокристаль-ном дифрактометре со сцинтилляционным счетчиком по схеме перпендикулярного пучка методом неподвижный счетчик—вращающийся кристалл . Использовалось монохроматизированпое отражением от кристалла-монохроматора — Мо-Л -излучение. Были измерены 920 ненулевых неэквивалентных отражений [c.

63]

    Направление осей. Усы растут в направлениях с низкими индексами. Это установлено рентгеновскими и гониометрическими исследованиями для очень многих усов (например, все настояш,ие усы — метод А усы Ag, Hg, Zn, d, ZnS — метод Б усы Na l и K I — метод Е). Именно этого и следовало ожидать исходя из того, что усы обычно являются монокристаллами. [c.291]

    Но у этого метода имелись, конечно, и свои недостатки, существе1шо ограничивающие его применение. Часто невозможно было различить вещества, относящиеся к одной сингонии.

Гониометрические определения неоднозначны и в том случае, когда кристаллы плохо сформированы или деформированы.

Главное же — гоп юметр чсский метод не давал прямого и однозначного ответа на вопрос, какова структура кристалла. [c.115]

    Структурный кристаллический анализ. Замечательный кристаллограф Е. С.

Федоров—создатель математической теории структуры кристаллов,—продолжая развивать идеи Менделеева, разработал метод кристаллохимического анализа, позволяющий определять химический состав кристаллов на основании измерений гониометрических внешних форм. Выдающийся химик Л.

А. Чу-гаев назвал кристаллохимический анализ Федорова, описанный в его труде Царство кристаллов , гордостью русской науки. Кристаллохимический анализ основывается на законе постоянства углов между гранями кристалла.

Величина этих углов определяется атомной кристаллической структурой, являющейся однозлачной характеристикой кристаллического соединения не только в отношении химического состава, но и принадлежности к определенной модификации. [c.16]

Источник: https://www.chem21.info/info/1411821/

Scicenter1
Добавить комментарий